小子样条件下电子装备维修性验证模型研究  

Maintainability Verification Method for Electronical Equipment with Small Sample Size

作　　者：刘福成[1] 尚朝轩[1] 李刚[1] 

机构地区：[1]军械工程学院,河北石家庄050003

出　　处：《现代电子技术》2010年第21期38-40,共3页Modern Electronics Technique

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60472009)

摘　　要：介绍了经典维修性验证方法,并指出其存在的不足,主要是对于现代电子设备而言传统的验证方法需要的试验样本量太大,试验经费昂贵,难以满足实际工程需要。根据Bayes原理,结合验前信息,推导建立了小子样条件下修复时间为对数正态分布时的验证模型以及试验时所需的样本量,通过理论推导,证明了该方法比经典的验证方法所需的样本量有所减少,可以节省试验经费,具有一定的实用价值。The shortages of classical maintainability demonstration method are introduced,which include large number of samples and expensive cost in experiment for the traditional verification of modern electronic equipments.The Bayes theory is used to reckon and provide small sample maintainability verification method for electronical equipment,and the sample size of the test.It proves that the cost can be saved and it has practical value.

关 键 词：维修性验证 Bayes原理 平均修复时间 指标 

分 类 号：TN919-34[电子电信—通信与信息系统]