^(130)Cs手征带的电磁跃迁概率  

作　　者：王烈林 吴晓光 竺礼华 李广生 郝昕 郑云 贺创业 汪雷 李雪琴 刘颖 潘波 李忠宇 丁怀博 

出　　处：《中国原子能科学研究院年报》2009年第1期173-174,共2页

基　　金：国家自然科学基金资助项目(10927507;10675171;10105015;10175070;10375092;10575133);国家重点基础研究发展规划资助项目(2007CB815000)

摘　　要：通过多普勒线移衰减法（DSAM）测得了130 Cs手征双重带的能级寿命。从实验测得的寿命数据提取了约化电磁跃迁概率B（E2）和HB（M1）。利用基于一粒子一空穴加集体转子模型对130Cs的手征双重带进行了理论计算。

关 键 词：手征双重带 跃迁概率 电磁 能级寿命 数据提取 转子模型 衰减法 多普勒 

分 类 号：O571.21[理学—粒子物理与原子核物理]