超声波成像技术：让砂眼、裂纹和粘接缺陷无处遁形  

作　　者：Joseph A Grande 

出　　处：《现代塑料》2010年第11期28-29,共2页Plastics Technology

摘　　要：随着原材料价格的不断上涨，声学显微成像技术（AMI）在微电子组件及其附件的无损检测和质量控制方面的应用愈加广泛，连接完整性，裂纹和砂眼等都在该技术的探测范围之内。

关 键 词：显微成像技术 粘接缺陷 砂眼 裂纹 超声波 原材料价格 微电子组件 质量控制 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程]