基于全反射原理的X荧光分析技术及其应用研究  

TXRF Technique and Quantitative Analysis of Mollusc Teeth

作　　者：刘恺[1] 邬旭然[1] 郑素华[1] 

机构地区：[1]烟台大学物理系

出　　处：《光谱学与光谱分析》1999年第3期430-433,共4页Spectroscopy and Spectral Analysis

摘　　要：本文简单介绍了一种目前我国应用很少但很有竞争力的新兴元素分析方法——全反射Ｘ荧光（ＴＸＲＦ）分析技术，我们自行研制的分析装置的最低检测限，对于Ｃｕ靶、Ｍｏ靶达到ｐｇ级，其相对检测限达到ｎｇ／ｇ。作为应用范例，还叙述了一种海洋软体动物“牙齿”的定量分析，并给出了相应的Ｘ荧光谱图和分析结果。Total reflection X ray fluorescence(TXRF)analysis technique and the instrument with a short path,high efficiency,low power and small volume are briefly presented.The detection limit of the system are at pg level for Cu and Mo target excition.Teeth of a marine mollusc were measured quantitatively and the spectrum and analysis results were given.

关 键 词：TXRF 全反射X荧光 X射线荧光分析 

分 类 号：O657.34[理学—分析化学]