检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中国华大集成电路设计中心
出 处:《世界电子元器件》1999年第4期21-22,共2页Global Electronics China
摘 要:一.引言 在亚微米、深亚微米工艺下,芯片集成度越来越高。目前单片集成几百万、上千万晶体管已不罕见。集成电路发展到甚大规模,对版图验证工具提出了新的要求。原有的版图验证工具在验证速度、精度等方面已显得力不从心,而且对于存储资源的要求也远远超出了实际可能。
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.145