薄膜磁致伸缩系数λ_s的简易测量  

A Simple Measuring Method for Magnetostriction Coefficient of Thin Films

作　　者：朱军[1] 余晋岳[1] 张宏[1] 

机构地区：[1]上海交通大学信息存储研究中心

出　　处：《磁性材料及器件》1999年第2期22-24,共3页Journal of Magnetic Materials and Devices

摘　　要：介绍了一种简便易行的薄膜磁致伸缩系数λｓ的测量方法，为研究和制备优良的磁性薄膜提供了条件。This paper introduces a simple measuring method for the magnetostriction coefficient of thin films,and it is suitable for various soft magnetic thin films.

关 键 词：磁致伸缩 饱和磁致伸缩 压磁效应 薄膜 测量 

分 类 号：O484.5[理学—固体物理]