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检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:褚鹏超[1] 娄鑫霞[1] 颜伟[1] 刘勇[1] 朱志毅[1]
机构地区:[1]南京师范大学电气与自动化工程学院,江苏南京210042
出 处:《电子质量》2010年第12期75-77,共3页Electronics Quality
摘 要:在电子工业中,由于静电会损坏电子元器件、严重影响产品质量的问题尚未得到解决,该文对某电子产品(简称被试系统)进行了静电放电(ESD)抗扰度试验,研究了接触式静电放电模式下系统受ESD干扰的情况。当放电电压低于4.5KV时,ESD对于被试系统基本没有影响;当放电电压大于5KV时,受试设备出现蜂鸣器报警、死机现象。通过改进接地,使其抗压能力提高,并对比分析不同接地措施,对进一步改进静电接地提供参考和依据。Electrostatic damages the electronic components and seriously affects product quality in many electronic industries.At present,many electrostatic problems have not been resolved.In this paper,an electrostatic discharge(ESD) immunity test has been done on an electronic products(referred to the test system),and analyzes the ESD interference on the system of contact electrostatic discharge mode.When discharge voltage is less than 4.5 KV,the test system basically has no influence;when the discharge voltage is greater than 5KV,the buzzer alarms,and crash phenomenon occurs.Through improving the grounding,its compressive voltage is increased;by comparing and analyzing the different grounding measures,it can apply the references and basis to further improve static grounding.
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