高端磁盘阵列可靠性测试建模方法研究  

Research on modeling of high-performance disk array reliability test

作　　者：潘清[1] 庄泽南[2] 张晓清[1] 王霄军[2] 

机构地区：[1]装备指挥技术学院信息装备系,北京101416 [2]装备指挥技术学院研究生院,北京101416

出　　处：《计算机工程与应用》2010年第36期82-84,132,共4页Computer Engineering and Applications

基　　金：国家高技术研究发展计划(863)(No.2009AA01A405)~~

摘　　要：阐述了衡量高端磁盘阵列可靠性的重要指标MTTDL,通过分析两种造成磁盘错误的原因,建模计算了各种RAID级别的MTTDL,设计了磁盘读出错率的测试方案,实现了基于分布式的磁盘读出错率测试程序。This paper introduces an important indicator of the reliability of high-reliability disk arrays—MTTDL,calculates MTTDL of the disk array constructed by various RAID levels by analyzing two reasons of the disk failure,designs BER（disk read error rate）testing schemea,nd implements disk read error rate testing program based on distribution.

关 键 词：可靠性测试 平均无数据丢失时间(MTTDL) 磁盘读出错率 

分 类 号：TP302[自动化与计算机技术—计算机系统结构]