纳米硫化镉的原位高压阻抗谱研究  

In-situ Impedance Spectroscopy Measurement of CdS Nanocrystals under High Pressure

作　　者：杨洁[1,2] 任万斌[1] 李岩[1] 吴宝嘉[1,3] 

机构地区：[1]吉林大学原子分子物理研究所,长春130012 [2]空军航空大学基础部,长春130022 [3]延边大学理学院物理系,吉林延吉133002

出　　处：《延边大学学报（自然科学版）》2010年第4期309-312,共4页Journal of Yanbian University（Natural Science Edition）

基　　金：国家自然科学基金资助项目(50772041;50772043;10874053;11074094;50802033)

摘　　要：利用在金刚石对顶砧上集成微电路,在0～25 GPa内原位测量了平均尺寸为100 nm的硫化镉的阻抗谱.研究表明:阻抗谱在压力下的改变对应着纤锌矿到岩盐矿的相变;在高压力作用下,晶界的散射作用变弱并导致晶界电阻下降.In-situ high-pressure impedance spectroscopy of CdS nanocrystals was measured with diamond anvil cell（DAC） which equipped with microcircuit up to 25 GPa.The change in complex impedance related to the phase transition from wurtzite to rock salt was observed.The results show that the effective scattering section of the grain boundary to charge carriers can be weakened under compression,which leads to the decrease of grain boundary resistance.

关 键 词：高压 阻抗谱 纳米硫化镉 

分 类 号：TB303[一般工业技术—材料科学与工程]