平板X射线真双能透视技术在安检领域的应用  

作　　者：金洁[1] 陈嘉敏[1] 尤晓明[1] 李维姣[1] 

机构地区：[1]公安部第三研究所

出　　处：《警察技术》2011年第1期46-49,共4页Police Technology

摘　　要：从1995年第一台平板探测器（Flat Panel Detector）问世以来,X射线数字平板成像技术已发展20余年,成为数字成像技术（DR）的发展趋势和代表。在平板探测器的研发和生产过程中,平板探测技术可分为直接和间接两类。

关 键 词：数字成像技术 平板探测器 X射线 应用 安检 发展趋势 生产过程 直接和 

分 类 号：TH774[机械工程—仪器科学与技术]