检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]军械工程学院静电与电磁防护研究所,石家庄050003
出 处:《高电压技术》2010年第12期2954-2959,共6页High Voltage Engineering
基 金:国家自然科学基金(60671045)~~
摘 要:针对目前国内外标准中关于混响室连续模式条件下电子设备辐射抗扰度测试实验的缺失,为了得出一套合理的、具有良好重复性的连续模式测试方法,利用混响室对电子设备进行辐射抗扰度测试,通过对型号为FX7302的心电图机进行辐射抗扰度实验,以心电图机输出屏幕的波形变化作为是否受到干扰的依据。通过大量实验探究了连续搅拌时统计平均时间参数以及搅拌器旋转速度对测试结果的影响,将混响室不同模式测试结果进行对比分析,得出连续模式测试结果的重复性要优于步进模式的重复性;同时无论搅拌器采用何种搅拌速度,其测试结果均低于步进模式;随着搅拌速度的增快,电子设备的抗扰度阈值有下降趋势。In accordance with some defects in the current standard test method of radiated immunity of device in mode stirred reverberation chamber,and in order to obtain the reasonable test method with high repeatability,device is tested in both stirred-mode and tuned-mode of reverberation chamber.The influence of statistical mean time and rates of tuners when reverberation chamber addresses in stirred-mode is investigated though a large amount of experiments.The results indicate that the repeatability of stirred-mode is better than that of tuned-mode;and the susceptibility thresholds of tuned-mode are higher than others in whichever speed.The results also show that the susceptibility thresholds decrease with the rates increasing.
关 键 词:混响室 辐射抗扰度阈值 测试方法 统计平均时间 重复性 电磁兼容
分 类 号:TN03[电子电信—物理电子学]
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