2009 IEEE EMC学术研讨会——抗扰度测试  

2009 IEEE Symposium on EMC——Immunity Measurement

作　　者：安皓 

出　　处：《安全与电磁兼容》2010年第3期85-88,共4页Safety & EMC

摘　　要：Electromagnetic Field Immunity Test System Applying Array Antenna Technology 摘要：在辐射抗扰度测试系统中使用了天线阵列,从而通过波瓣形成技术使场均匀性和发射功率达到要求。作者使用了64个元天线作为天线阵,

关 键 词：辐射抗扰度 测试系统 学术研讨会 IEEE EMC 天线阵列 发射功率 场均匀性 

分 类 号：TN98[电子电信—信息与通信工程]