面源均匀性对γ谱仪探测效率的影响分析  

作　　者：田自宁[1] 贾明雁[1] 张洋[1] 申茂泉[1] 晏林[1] 冯天成[1] 成智威[1] 

机构地区：[1]西北核技术研究所,陕西西安710024

出　　处：《中国辐射卫生》2010年第4期482-483,共2页Chinese Journal of Radiological Health

摘　　要：目的研究面源均匀性对探测效率的影响。方法使用偏差分布和积分均匀性两种方法表征两块241Am面源的均匀性,并对两块面源在不同高度进行实验测量其对探测效率的影响。结果两块面源都是一半放射性较强,一半放射性较弱;1#241Am面源和2#241Am面源积分均匀性分别为15.89%、12.12%,两块面源探测效率最大偏差为6(左右。结论面源均匀性对探测效率有一定的影响。

关 键 词：面源均匀性 探测效率 

分 类 号：R144[医药卫生—公共卫生与预防医学]