检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]电子科技大学自动化工程学院,成都611731
出 处:《电子测量技术》2011年第1期102-105,共4页Electronic Measurement Technology
摘 要:针对大多数高速数据采集系统仅从数据采集速度、系统架构等不断优化,鲜有设计时考虑系统可测性等具体问题,在不改变布局布线、不添加额外设备的前提下,运用BIST思想,既实现了数据的高速、实时采集,又达到了对FPGA周边器件的故障检测与定位。In most high-speed data acquisition system,Design for Testability is rarely taken into consideration in the phase of system design.Without layout changing and additional equipment requirement,high-speed real-time data acquisition and fault detection/location among peripheral devices of FPGA are achieved by using BIST technology in this paper.
分 类 号:TP274.2[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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