基于IEC 62220-1-3:2008的量子探测效率测定方法研究  

作　　者：张宇晶[1] 孙智勇[2] 

机构地区：[1]国家食品药品监督管理局医疗器械技术审评中心,北京100044 [2]国家食品药品监督管理局沈阳医疗器械质量监督检测中心,沈阳110179

出　　处：《中国医药导刊》2011年第1期183-184,182,共3页Chinese Journal of Medicinal Guide

摘　　要：数字X射线成像装置正日益广泛的应用于医疗诊断领域并逐步替代传统的屏片系统与模拟的X射线影像增强电视系统。量子探测效率（DQE）是描述X射线成像装置成像性能的最适合的参数。DQE描述成像装置维持从辐射野到输出数字化影像数据的信噪比的能力。

关 键 词：数字X射线成像装置 量子探测效率 测定布局 噪声功率谱 滞后效应校正 

分 类 号：R811[医药卫生—放射医学]