X射线荧光光谱法测定Dy_2O_3及其杂质Eu_2O_3,Gd_2O_3,Tb_4O_7,Ho_2O_3,Er_2O_3和Y_2O_3  

作　　者：宋永清[1] 陆少兰[1] 

机构地区：[1]北京有色金属研究总院,北京100088

出　　处：《冶金分析》1999年第4期47-49,共3页Metallurgical Analysis

关 键 词：Dy2O3 测定 X射线 荧光光谱法 XRF 杂质 

分 类 号：O614.342[理学—无机化学]