全固态相控阵三坐标雷达机内测试设计  

Design of BIT System in the FullSolid-State Phased Array 3D Radar

作　　者：雷旺敏[1] 

机构地区：[1]南京电子技术研究所,南京210013

出　　处：《现代雷达》1999年第4期19-25,共7页Modern Radar

摘　　要：介绍了全固态相控阵三坐标雷达机内测试系统设计方法和各分系统 Ｂ Ｉ Ｔ 设计特点，强调了 Ｂ Ｉ Ｔ 系统模块化设计的重要性，强调了建立可更换单元备份件数据库和故障列表显示的必要性。The design method of BIT system in the full solid-state phased array 3D radar and design features of BIT in subsystems are introduced in this paper. Emphases are put on the importance of modular design in BIT system.The necessity to design data bank for LRU and fault tabular display is also emphasized.

关 键 词：机内测试 故障检测 全固态 相控阵 三坐标雷达 

分 类 号：TN956[电子电信—信号与信息处理] TN958[电子电信—信息与通信工程]