浅析磁粉探伤检验中产生非相关磁痕的原因  

作　　者：苏灿洪 

出　　处：《闽西科技》1999年第2期23-24,共2页

关 键 词：铁磁材料 磁粉探伤 检验 非相关磁痕 

分 类 号：TM277[一般工业技术—材料科学与工程] TM271[电气工程—电工理论与新技术]