用X射线衍射仪测定粉尘中游离二氧化硅  

作　　者：张龙生[1] 

机构地区：[1]上海市计量测试技术研究院

出　　处：《上海计量测试》1999年第5期50-50,共1页Shanghai Measurement and Testing

关 键 词：粉尘 二氧化硅 X射线衍射仪 测定 

分 类 号：R134.4[医药卫生—劳动卫生] X513.02[医药卫生—公共卫生与预防医学]