X荧光镀层厚度测量条件选择及方法研究  

作　　者：王强兵[1] 郭继平[1] 

机构地区：[1]深圳市计量质量检测研究院,深圳518055

出　　处：《现代测量与实验室管理》2011年第2期7-9,11,共4页

摘　　要：本文对影响X荧光镀层厚度测量的测量条件(准直器、测量时间、测量程式、镜头对焦方式)和测量方法(有无标准片校准及不同校准方法)进行分析并分组实验,通过对测量结果的研究以选择合适的测量条件和测量方法来提高X荧光镀层厚度测量的准确性和可靠性。

关 键 词：X射线荧光测厚仪 测量条件 测量方法 

分 类 号：TH821.1[机械工程—仪器科学与技术]