基于动态克隆选择的记忆检测器更新算法  

作　　者：时和平[1] 时晨[1] 马秀芳[1] 

机构地区：[1]解放军西安通信学院,陕西省西安市710106

出　　处：《电信快报（网络与通信）》2011年第4期7-11,共5页Telecommunications Information

摘　　要：记忆细胞在再次检测到相同或相似的抗原时能迅速活化,产生大量抗体,并进行快速免疫应答。在基于人工免疫的入侵检测中,利用此特性对检测器生命周期进行模拟,可大大提高入侵检测系统的性能。文章在分析动态克隆选择算法模型中记忆检测器生成过程的基础上,提出一种记忆检测器更新算法,对记忆检测器的个数设定最大值,避免出现随着时间的推移产生检测器规模过大的问题。提出"淘汰匹配次数最少检测器"的淘汰策略,较好解决了随机淘汰策略带来的缺陷,能较有效地平衡系统的性能和开销。对淘汰的成熟检测器进行再利用,对不同检测器阶段进行动态调节。

关 键 词：克隆选择 记忆检测器 阴性选择 人工免疫 匹配 

分 类 号：TP216[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]