电子装备通用自动测试系统发展及其关键技术  

Development and key technology in general purpose automatic test system

作　　者：赵强[1] 刘松风[2] 程鹏[3] 

机构地区：[1]海军工程大学电子工程学院,湖北武汉430033 [2]海军装备技术研究所,北京102442 [3]海军工程大学现代教育技术中心,湖北武汉430033

出　　处：《电子设计工程》2011年第9期160-162,169,共4页Electronic Design Engineering

摘　　要：随着现代电子测试技术、微电子技术、计算机技术的发展,自动测试系统也随着复杂电子装备的需求而不断发展,通用自动测试系统是自动测试系统今后发展的必然方向。简要介绍了自动测试系统的发展概况,通过对通用自动测试系统特点的分析,提出了"架构层"、"语法层"和"语义层"通用自动测试系统的概念,并讨论了涉及下一代通用自动测试系统的关键技术及应用方向,为通用自动测试系统的研究指明了方向。With the development of modem electronic testing technology,microelectronics and computer technology, Automatic Test System （ATS） is also promoted by the test demand of the complex electronic equipments,and General Purpose Automatic Test System （GPATS） is the inevitable direction of future ATS.An overview is given to the development of ATS. By the analysis of the character of GPATS,the concepts of ＂framework layer＂, ＂syntax layer＂ and ＂semantic layer＂ are proposed,and the key technologies and application directions involved in the next generation GPATS are discussed, what＇s more, the research direction forward is also pointed out.

关 键 词：通用自动测试系统 架构层 语法层 语义层 

分 类 号：TP271.5[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]