微焦点X射线CT及其在无损检测中的应用  

X-RAY COMPUTED MICROTOMOGRAPHY(CMT) AND ITS APPLICATION TO NDT

作　　者：李玉彬[1] 李向良[1] 姜燕梅 

机构地区：[1]胜利石油管理局地质科学研究院,山东东营257015 [2]美国捷特公司

出　　处：《无损检测》1999年第12期549-552,共4页Nondestructive Testing

摘　　要：工业微焦点CT的X射线源焦点尺寸<5μm,成象分辨力明显优于常规焦点CT。介绍如何提高微焦点CT的图象质量,及其在无损检测中的应用。The image resolution of industrial X-ray computed microtomography (CMT) with focal spot less than five micrometer is quite better than that of conventional focal spot CT. Improvement of the image quality of X-ray CMT and its application to NDT are described.

关 键 词：射线检验 实时成象 微焦点CT 无损检测 

分 类 号：TB302.5[一般工业技术—材料科学与工程] O434.12[机械工程—光学工程]