激光测量壳体包覆层厚度及误差分析  

作　　者：祁国平[1] 吴朝润[1] 

机构地区：[1]中北大学,山西太原030051

出　　处：《中国电子商务》2011年第6期113-113,116,共2页E-commerce in China

摘　　要：传统的包覆层厚度测量有很多缺点和问题，本文提出了激光测量壳体包覆层厚度并介绍了其方法。该方法用于测量壳体内壁涂敷的包覆层厚度，壳体内壁包覆层太薄或太厚都会影响器件的正常工作，因此，应对包覆层的厚度进行测量，以免影响其正常工作。

关 键 词：包覆层 激光 测厚 误差分析 

分 类 号：TJ06[兵器科学与技术—兵器发射理论与技术]