检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:任红霞[1] 胡江峰[2] 郑德修[2] 孙鉴[2]
机构地区:[1]西安电子科技大学微电子研究所,西安710071 [2]西安交通大学电子物理与器件研究所,西安710049
出 处:《真空科学与技术》1999年第6期439-444,共6页Vacuum Science and Technology
摘 要:提出了用测量ACPDP(ACplasmadisplaypanel)放电特性和加速老化特性来探求保护膜发射和稳定性能的间接测量方法 ,研制了模拟ACPDP放电特性测量装置 ,为衡量保护膜特性提供了有力的工具。并利用此装置对不同材料保护膜对ACPDP放电特性的影响进行了分析讨论 ,确定了新颖膜材的选择方向 。A novel technique was developed,in which secondary electron emission properties and stability of protection layers of AC plasma display panel (AC PDP) can be indirectly measured through evaluating its discharge characteristics and its accelerated aging properties.The home made instrument,which imitates discharging of AC PDP cell,is capable of assessing the performance of protection films.Influence of various protection films of different materials on AC PDP performance was studied with this new instrument in our search for high emissive protection films.
关 键 词:ACPDP 保护膜材料 放电特性 等离子体显示器
分 类 号:TN141.5[电子电信—物理电子学]
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