检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室,上海201203 [2]上海贝尔股份有限公司,上海201206
出 处:《中国集成电路》2011年第6期80-83,共4页China lntegrated Circuit
摘 要:本文阐述了一种在Verigy 93000上进行直流参数测试的测试方法,并与传统方法进行了比较分析,结果表明该方法在测试中能完全并行使用硬件资源,使测试时间有效降低。A DC test method based on Verigy 93000 is proposed,and compared with traditional test methods.The result indicates in this method the DC test resources can be used individually,and the testing time is reduced effectively.
关 键 词:DC测试 VERIGY 93000 FLEX DC 测试方法
分 类 号:TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]
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