V—SiO2中二氧化锗掺杂引起的缺陷变化的Raman谱研究  

作　　者：肖年 徐知三 

出　　处：《光散射学报》1989年第2期43-48,共6页The Journal of Light Scattering

关 键 词：钒 氧化锗 掺杂 玻璃 缺陷 氧化硅 

分 类 号：TQ171.12[化学工程—玻璃工业]