磁敏感加权成像技术及其在创伤性脑疾病中的诊断价值  

作　　者：伍建林[1] 张竞文[2] 

机构地区：[1]大连大学附属中山医院放射科,116011 [2]大连医科大学附属第一医院放射科

出　　处：《中国现代神经疾病杂志》2011年第3期270-274,共5页Chinese Journal of Contemporary Neurology and Neurosurgery

基　　金：国家自然科学基金资助项目(项目编号:30870699)

摘　　要：磁敏感加权成像（SWI）是美国韦恩州立大学Haacke教授研制的新型MRI对比技术，最初称为高分辨力血氧水平依赖效应静脉成像（HRBV），并于2002年以后正式命名为磁敏感加权成像。它不同于常规的质子密度加权像（PDWI）、T1WI、T2WI及扩散加权成像（DWI）等技术，在中枢神经系统疾病的应用价值和发展前景越来越受到关注。

关 键 词：磁共振成像 颅脑损伤 综述文献 

分 类 号：R445.2[医药卫生—影像医学与核医学]