片上系统(SoC)空间应用前景及可靠性若干问题的思考  

作　　者：张志国[1] 刘宇[1] 朱辉[2] 刘鸿瑾[3] 李澍[4] 

机构地区：[1]中国航天科技集团公司宇航部,北京100048 [2]中国航天标准化与产品保证研究院,北京100071 [3]北京控制工程研究所,北京100190 [4]北京微电子技术研究所,北京100076

出　　处：《质量与可靠性》2011年第3期29-31,共3页Quality and Reliability

摘　　要：调研了国内外SoC空间应用现状,分析了国内外SoC空间应用以及可靠性方面的差距,总结了国产SoC空间应用存在的可靠性问题,提出了相关建议,供产品设计单位及可靠性专业单位参考。

关 键 词：SOC 空间应用 可靠性 

分 类 号：V443[航空宇航科学与技术—飞行器设计] TB114.3[理学—概率论与数理统计]