石英谐振器频率稳定性的失效分析  

Failure Analysis of Stability of Quartz Oscillator

作　　者：康翠荣[1] 杨治安[1] 王惠[1] 乔亚莉[1] 金善明 

机构地区：[1]天津大学分析中心,天津300072 [2]天津市华光电子器件厂,300131

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》1999年第5期33-35,共3页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

摘　　要：本文对频率稳定性不良的石英谐振器进行了失效分析，并利用扫描电子显微镜观察了石英晶片电极银膜层的显微形貌，分析了石英晶片银膜层不连续和附着差的原图，提出了改进措施，使石英晶片银膜层的合格率显著提高。

关 键 词：银膜层 频率稳定性 失效分析 石英谐振器 

分 类 号：TN815[电子电信—信息与通信工程]