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作 者:蒲南江[1] 张娟娟[1] 吴黎慧[1] 李小虎[1]
机构地区:[1]中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西太原030051
出 处:《电子测试》2011年第7期86-88,121,共4页Electronic Test
摘 要:当前的先进动态测试系统往往需要高速高精度的采集前端,如何实现对大量实时数据的高速存储成为研究热点。在此背景下本文提出一种实现大容量高速存储系统的设计方案。存储模块是由NANDFlash存储芯片组成的4X4存储阵列,以FPGA为载体的SOPC系统作为存储模块的控制核心。根据NANDFlash芯片结构特性,采用位扩展和并行总线技术,增大了存储系统容量;同时多通道流水线的数据加载方式的实现使Flash的编程时间得到了充分利用。在存储过程中,对4个子存储模块的无效块进行统一标识管理,让CPU能快速准确的定位到有效块地址值,保证存储过程的连续性。本系统能实现存储速度64MB/s,存储容量16GB。The current advanced high-speed dynamic testing system often requires high-precision acquisition front, how to achieve real-time data on a large number of high-speed storage to become hot. This paper presents a realization of large capacity high speed storage system. Storage area is a 4X4 storage arrays composed of NAND Flash memory chips, as the carrier of the SOPC, FPGA memory control system as the core. According to structural characteristics of NAND Flash chips, the use of bit extensions, and multi-channel line parallel bus technology, with a relatively small capacity, low-speed Flash memory to achieve a large capacity high speed storage system. In the storage process, the invalidity of the four sub-blocks of memory module for unified identity management, so that CPU can quickly and accurately locate the valid block address value, to ensure the continuity of the stored procedure. The system can realize storage speed 64MB / s, storage capacity 16GB.
分 类 号:TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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