检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西太原030051
出 处:《电子测试》2011年第8期48-51,共4页Electronic Test
摘 要:针对恶劣环境下的加速度、压力、温度等参数的测试,介绍了基于Xilinx公司的CPLD芯片和Ramtron公司的铁电存储器的4通道存储测试系统设计方案,给出了硬件电路原理图和软件程序流程图。本系统以CPLD芯片XCR3064为控制核心,它控制住整个系统的工作时序和工作状态。该系统能够同时采集4个通道的电压信号,将转换后的数字信号存储在存储器中。实际应用证明,该系统具有功耗低、性能稳定、测试精度高等优点,能够在高温、高压、高过载等恶劣环境下出色完成存储测试任务。This paper provides the project of Four-channel Memory Test System Based on CPLD AND FRAM for the test of acceleration,pressure,temperature and other parameters in harsh environment,and provides the hardware circuit diagram and software program flow chart of the system.The system's core is CPLD XCR3064 which controls the timing and Status of the whole system.The system can simultaneously capture four channels of voltage signal,the converted digital signal is stored in the memory.The practical application shows that the system has low power consumption,stable performance,high precision and can fulfill the task of memory tests at high temperature,high pressure,high overload and other harsh environments.
分 类 号:TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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