光干涉甲烷测定器干涉条纹漂移及故障分析与处理  

作　　者：姚珍[1] 邓光峰 

机构地区：[1]安徽省阜阳市计量测试研究所

出　　处：《中国计量》2011年第8期127-127,共1页China Metrology

摘　　要：一、干涉条纹漂移（或称干涉条纹跑正、跑负）仪器干涉条纹漂移是由仪器空气室的空气折射率（na）和甲烷室被测气体的折射率（nc）变化引起的,产生的原因有以下几种：

关 键 词：干涉条纹漂移 甲烷测定器 故障分析 光干涉 空气折射率 空气室 仪器 

分 类 号：TH83[机械工程—仪器科学与技术]