基于多信号流图的高层模块描述  

High-level modules of multi-signal flow graphs for testability analyses

作　　者：吕政良[1] 王红[1] 靳洋[1] 林志文[1] 杨士元[1] 

机构地区：[1]清华大学自动化系,北京100084

出　　处：《清华大学学报（自然科学版）》2011年第7期884-888,共5页Journal of Tsinghua University(Science and Technology)

基　　金：国家自然科学基金项目(60633060;60773142);高等学校博士学科点专项科研基金项目(20070003122)

摘　　要：多信号流图模型是系统测试性分析的常用模型,为解决其层次化建模分析?的信息保密问题,提出了一种高层模块的描述方法。该方法将故障-测试相关矩阵(D矩阵)扩展,描述了高层模块的故障在系统中的影响、高层模块内部测试对系统测试性的贡献及高层模块对信号传递的影响。该描述方法有效地屏蔽了高层模块的结构信息,有利于不同系统设计者之间的信息保密。实验表明:该描述方法还加快了测试性分析中D矩阵的生成速度,减少了测试性分析时间。The multi-signal flow graph is widely used to analyze system testability.High-level modules were developed for multi-signal flow graphs for testability analysis to improve information confidence in hierarchical modeling.This method extends the failure-test-dependence matrix（D-matrix） to include effects of inner failures,inner tests and transmission capacity of the module.The structural information is hidden so it maintains information confidence among system designers.Tests show that this description speeds up the D-matrix generation and testability analyses.

关 键 词：多信号流图 层次化建模 信息保密 测试性 

分 类 号：TP391.76[自动化与计算机技术—计算机应用技术]