双光栅衍射位移测量实验仪的研制  

Development of a dual-grating interference displacement measuring instrument

作　　者：徐龙[1] 何章宏[1] 黑杨辉[1] 刘晓军[1] 

机构地区：[1]华中科技大学机械学院,湖北武汉430074

出　　处：《实验技术与管理》2011年第7期85-87,共3页Experimental Technology and Management

摘　　要：介绍了一种双光栅衍射位移测量教学实验仪器的工作原理、系统结构、研制内容、实测结果以及在实验教学中的应用。A dual-grating diffraction displacement measuring instrument for experimental teaching is introduced.Its principle is explained and its structure is described and its application to experimental teaching is given.

关 键 词：实验仪 双光栅干涉 位移测量 

分 类 号：TH741[机械工程—光学工程]