检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:张有涛[1] 李晓鹏[1] 张敏[1] 刘奡[1] 钱峰[1] 陈辰[1]
机构地区:[1]南京电子器件研究所,微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室,南京210016
出 处:《固体电子学研究与进展》2011年第4期393-397,共5页Research & Progress of SSE
摘 要:基于0.18μm CMOS工艺设计并实现了一种8 bit 1.4 GS/s ADC。芯片采用多级级联折叠内插结构降低集成度,片内实现了电阻失调平均和数字辅助失调校准。测试结果表明,ADC在1.4 GHz采样率下,有效位达6.4bit,功耗小于480 mW。文章所提的综合校准方法能够有效提高ADC的静态和动态性能,显示出其在超高速ADC中的必要性。A 1.4 GS/s 8 bit ADC is demonstrated in 0.18 μm CMOS.The chip realizes cascade folding and interpolation with resistive averaging and digital calibration.Test results show that the ENOB could be 6.4 bit with 480 mW power dissipation while operating at 1.4 GS/s.The proposed effective calibration methods could improve the static and dynamic performance of ADC.
关 键 词:模数转换器(ADC) 失调校准 折叠内插
分 类 号:TN432[电子电信—微电子学与固体电子学]
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