基于红外成像检漏技术的SF_6气体检漏方法研究  

作　　者：甘德刚[1] 刘曦[1] 肖伟[1] 李晶[1] 

机构地区：[1]四川电力科学研究院

出　　处：《电气应用》2011年第17期56-58,共3页Electrotechnical Application

摘　　要：红外成像检漏技术作为高压电气设备SF6气体检漏的一种带电检测技术,目前已在我国得到了越来越多的研究和应用。本文分析了不同红外成像检漏技术的原理及研究现状,在现场开展了不同红外检漏技术的对比研究,在此基础上分析了不同红外成像检漏技术的特点,指出了红外成像检漏技术存在的问题。通过现场检测结果表明,红外成像检漏技术能够非常直观地对SF6泄漏源进行检测和定位,在SF6气体检漏方面具有良好的应用前景。

关 键 词：红外 SF6 气体 成像 检漏 高压 

分 类 号：TM855[电气工程—高电压与绝缘技术] TN219[电子电信—物理电子学]