表面轮廓仪在光纤端面观测中的应用  

作　　者：徐兵[1] 

机构地区：[1]陕西理工学院,陕西汉中723003

出　　处：《黑龙江科技信息》2011年第24期85-85,共1页Heilongjiang Science and Technology Information

摘　　要：采用表面轮廓仪测定了光纤和湿法刻蚀加工的多模单模与多模光纤粗糙度数据。结果表明:表面轮廓仪表适合检测光纤及刻蚀加工后的2D与3D特征,反映刻蚀深度和微腔形貌。

关 键 词：光学轮廓仪 粗糙度 光纤端面 

分 类 号：TN253[电子电信—物理电子学]