用于超热电子诊断的滤波荧光谱仪滤片厚度的优化设计  

Optimized design for filter-fluorescer spectrometer for suprathermal electron diagnostication

作　　者：赵学峰[1,2] 蒋刚[2] 吴壮[3] 李三伟[1] 王传珂[1] 况龙钰[1] 李朝光[1] 

机构地区：[1]中国工程物理研究院激光聚变研究中心,绵阳621900 [2]四川大学原子与分子物理研究所,成都610065 [3]四川大学原子核科学技术研究所,成都610065

出　　处：《核聚变与等离子体物理》2011年第3期272-277,共6页Nuclear Fusion and Plasma Physics

基　　金：高温高密度等离子体物理国防重点实验室基金资助项目(9140C6801010901);中国工程物理研究院科学技术发展基金资助项目(2010A0102003)

摘　　要：根据物质的吸收系数、散射截面、荧光截面的离散数据进行了二维插值,利用插值后的数据对前置滤片透射率、荧光体吸收截面、后置滤片透射率进行拟合,用文献[2]的滤波荧光谱仪的总响应函数(荧光响应函数和散射响应函数)以及探测器灵敏度和散射光、荧光光子数,对前置滤片、荧光片和后置滤片的不同厚度进行优化设计,得到了最大信噪比(荧光响应函数曲线的峰值面积与总响应函数面积的比值)及最大信噪比对应的前置滤片、荧光片、后置滤片厚度。在滤波荧光谱仪上应用优化厚度,减少了高能尾部对探测信号的影响,得到更加有效的硬X射线能谱,继而推算出更加精确超热电子信息。According to fluorescence response and scatter response function,the thicknesses of profilters,postfilters and fluorescers of the filter-fluorescer spectrometer have been optimized with data interpolation.The least signal-to-noise and the optimize thicknesses of prefilters,postfilters and fluorescers are obtained.The filter-fluorescer spectrometer apply the optimize thicknesses of prefilters,postfilters and fluorescers for decreasing influence of high-octane to the signal of detector and gaining more available spectrum of hard X-ray,sequentially calculating available information of suprathermal electron.

关 键 词：滤波荧光谱仪 响应函数 优化设计 超热电子 

分 类 号：TH744.1[机械工程—光学工程]