竖直平板上电容法测量水膜厚度方法评价  

作　　者：宋建[1] 韦胜杰[2] 于意奇[2] 胡珀[2] 杨燕华[2] 

机构地区：[1]解放军海军工程大学核能科学与工程系,武汉430033 [2]上海交通大学核科学与工程学院,上海200240

出　　处：《计量技术》2011年第9期15-18,共4页Measurement Technique

摘　　要：本文指出了电容探针测量动态水膜厚度的若干影响因素，并针对其中主要因素水膜表面波形态对测量的影响进行了定量分析。同时，定性分析了影响测量的诸如电容探针有效截面、平板表面水膜覆盖情况和水膜波动速度及采样频率等其它因素对于测量的影响。误差分析表明，电容探针的测量误差与探针有效截面面积、探针截面与波动表面夹角成正比，与测量值的绝对值成反比。

关 键 词：电容探针 动态水膜厚度 水膜表面波形态 误差分析 探针有效截面 

分 类 号：O655[理学—分析化学]