嵌入式软件回归测试错误定位方法的研究  

Study on Fault Localization Method for Embedded Software Regression Testing

作　　者：王微[1] 刘咏梅[1] 

机构地区：[1]内蒙古大学计算机学院,呼和浩特010021

出　　处：《内蒙古大学学报（自然科学版）》2011年第5期533-539,共7页Journal of Inner Mongolia University：Natural Science Edition

基　　金：内蒙古自然科学基金资助项目(No.20080404MS0906);教育部春晖项目(Z2007-1-01032)

摘　　要：由于嵌入式软件的复杂性,决定着嵌入式软件的修改是一项困难的任务,在修改的过程中容易引入新的错误.由此可知嵌入式软件的回归测试在整个软件开发的生命周期中占有重要地位.通过研究几种回归测试错误定位方法,提出一种适用于嵌入式软件的基于程序频谱和原子依赖的回归测试错误定位方法,并且通过实例对该方法进行了说明.The modification of the embedded software is a difficult task because of the complexity and it is easy to import new bugs.The importance of regression testing in the life cycle of embedded software development is emphasized.After detailed analysis of previous regression testing method,a new regression testing method for fault localization is proposed based on program frequency and atom dependence,which can be applied to embedded software.

关 键 词：嵌入式软件测试 回归测试 程序频谱分析 

分 类 号：TP311[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]