March算法在BIST电路设计中的作用机制  

Mechanism of March Algorithm in a Circuit with Self Built-in Test Function

作　　者：张莹[1] 赵纶[1] 

机构地区：[1]电信科学技术研究院,北京100094

出　　处：《大连交通大学学报》2011年第5期98-101,共4页Journal of Dalian Jiaotong University

摘　　要：基于March CE算法,设计了一种可嵌入式的具有内建自测试功能的电路;在电路和测试方案设计中依据March CE算法中理论公式,并以此为依据叙述了设计过程中的作用机制,给出BIST电路结构原理图和电路设计图,对所设计的电路进行了测试,验证了所设计电路.An embedded circuit with a built-in self test function is designed based on March CE algorithm.The BIST circuit structure and circuit design schematic are presented,and the designed circuit is tested and verified.

关 键 词：MARCH CE算法 BIST电路 作用机制 

分 类 号：TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]