毫米波天线测量  

作　　者：翟爱芬（译） 

机构地区：[1]中国电科集团第三十九研究所科研保障部

出　　处：《测控与通信》2011年第3期51-54,共4页

摘　　要：介绍1种最新方法，用于精确测量毫米波平面天线的散射参数和辐射方向图。为了避免内部互连引发的问题，RF探针必须直接连到天线。这些探针通常用于确定半导体晶片上器件的性能，这里用于确定平面制造技术生产的天线性能。设计了1个完整的平面过渡，把必须用RF探针的共面波导传输线过渡到微带线。过渡的影响可以从测量中去除。此外，还设计了毫米波天线和天线阵列远场辐射方向图测量装置。此装置可以在测试过程中用RF探针连接天线并测量整个上半球面的辐射方向图。

关 键 词：毫米波天线 天线测量 辐射方向图 平面天线 天线性能 测量装置 半导体晶片 波导传输线 

分 类 号：TN822.4[电子电信—信息与通信工程]