PTC元件性能的微机测试  

作　　者：石志熹[1] 

机构地区：[1]山东工业大学

出　　处：《仪器仪表学报》1990年第4期430-435,共6页Chinese Journal of Scientific Instrument

摘　　要：一、引言PTC 元件为突变型正温度系数热敏电阻,广泛用作彩电中的消磁器。PTC 元件出厂实验的一项主要内容是测试其I-t 特性,即在恒温环境中通以交流市电,测试通过元件的电流峰-峰值随时间的衰减特性,因该特性直接决定了电视机的消磁效果。为了测试的方便,出厂实验规定只测几个时刻的电流峰-峰值,即初始电流I_0(通电后第一个半周的电流峰-峰值),阻尼电流I_1(通电t_1秒的峰-峰值,t_1常规定为1～5s)和稳态电流I_2(t_2常规定为几十秒至几分钟)。目前PTC 元件均为单只测试,每只元件的测试时间显然要大于t_2,故效率甚低。再加生产厂家缺乏测试峰-峰值的手段,只好以有效值测试。由于元件的非线性,通过元件电流波形有严重畸变,以有效值测试便失去了真实性。鉴于目前正大力推行彩电元器件的国产化,为满足PTC 元件批量测试的需要,我们研制了PTC 元件微电脑I-t 参数测试仪。

关 键 词：热敏电阻 正温度系数 微机测试 

分 类 号：TN373[电子电信—物理电子学]