光源线度对干涉条纹可见度的影响  

Light line degree of visibility of interference fringes

作　　者：徐爱英[1] 罗华平[1] 

机构地区：[1]塔里木大学机械电气化工程学院,新疆阿拉尔843300

出　　处：《大众科技》2011年第11期112-112,111,共2页Popular Science & Technology

基　　金：塔里木大学"十一五"期间第二批重点建设课程<大学物理>(DZGKC09080)

摘　　要：文章从单色光强的计算出发,探讨了光源的线度对干涉条纹可见度的影响。并以杨氏双缝干涉为例做定量分析,计算出了光源的临界宽度。This is calculated starting from the monochromatic light intensity, degree of the light line visibility of the impact of interference fringes. T. Young＇s double slit interference and to do quantitative analysis, for example, calculated the light of the critical width.

关 键 词：可见度 光源的线度 干涉条纹 

分 类 号：O436[机械工程—光学工程]