GCK-Ⅲ光电测宽仪原理及硬件系统  

作　　者：陈京德[1,2] 叶红[1,2] 汤建民[1,2] 张建恒 常春报 

机构地区：[1]冶金部自动化研究院 [2]太钢公司热轧厂

出　　处：《工业计量》1999年第S1期411-412,共2页Industrial Metrology

摘　　要：由冶金自动化研究院开发的ＧＣＫ－Ⅲ光电测宽仪是在总结Ⅰ型和Ⅱ型测宽仪的基础上，并吸收国外测宽仪先进技术研制出的新一代光电测宽仪。该测宽仪采用４个线阵ＣＣＤ摄像机，分２组同时测量钢板的２个边缘位置，通过计算机对边缘信号进行处理，同时利用各边测量值的情况...

关 键 词：测宽仪 检测箱 宽度值 上位机 测量精度 修正原理 测量原理 偏差信号 硬件电路 宽度修正 

分 类 号：TH741[机械工程—光学工程]