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作 者:杜军[1] 陈景[1] 吴小山[1] 潘明虎[1] 龙建国[1] 张维[1] 鹿牧[1] 翟宏如[2] 胡安[1]
机构地区:[1]南京大学物理系固体微结构物理国家重点实验室,南京210093 [2]南京大学现代分析中心,南京210093
出 处:《物理学报》1999年第S1期236-243,共8页Acta Physica Sinica
基 金:国家自然科学基金!重大项目( 批准号:19890310);国家高等学校博士学科点专项科研基金!( 批准号:96028414)
摘 要:用等离子体氧化形成中间绝缘层的方法可重复制备出具有隧道磁电阻(TMR) 效应的Ni80Fe20/Al2O3/Co 磁性隧道结.光透射谱等实验结果表明等离子体氧化能可控制地制备较致密的Al2O3 绝缘层.样品的TMR 比值在室温下最高可达6-0 % ,反转场可低于800 A/m ,相应的平台宽度约为2400 A/m .结电阻Rj 的变化范围从几百欧到几百千欧,并且TMR 比值随零磁场结偏压增大单调减小.With plasma oxidization to create an insulating layer of Al 2O 3,we have repeatedly fabricated some Ni 80 Fe 20 /Al 2O 3/Co magnetic tunnel junctions (MTJ),which show obvious tunneling magnetoresistance (TMR) effect.The insulating layer is well formed by the oxidization procedure,which is verified by optical spectra and other measurement results.At room temperature,the maximum TMR ratio reaches 6 0%.The switch field can be less than 800?A/m and the relative step width is about 2400?A/m.The junction resistance R j changes from hundreds of ohms to hundreds of kilohms and TMR ratio decreases monotonously with the increase of applied junction voltage bias (under zero magnetic field).
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