Dynamic Behavior of Voltage Across Small Capacitance Josephson Junction  

小电容约瑟夫森结端电压的动力学行为(英文)

作　　者：邵彬[1] 邹健[1] 苏文勇[1] 李前树[2] 

机构地区：[1]北京理工大学应用物理系,北京100081 [2]北京理工大学化工与材料学院,北京100081

出　　处：《Journal of Beijing Institute of Technology》1999年第4期370-373,共4页北京理工大学学报（英文版）

摘　　要：Aim To study the dynamic behavior of voltage across small capacitance Josephson junction. Methods A model of the mesoscopic Josephson junction coupled with a single mode quantized radiation field was used. Results A Gaussian type envelope factor exhibiting quantum collapse and revival(CR) phenomenon was obtained. Conclusion It is shown that for the squeezed state the time evolution of the voltage can exhibit drastically quantum CR phenomenon.目的　研究跨越小电容约瑟夫森结电压的动力学行为． 方法　用一个介观约瑟夫森结与单模量子化辐射场的耦合模型进行研究． 结果　导出了一个高斯型包络因子． 该因子显示了量子崩溃与复原现象． 结论　研究表明，在压缩态场作用下，电压的时间演化行为能够显示量子崩溃与复原现象．

关 键 词：mesoscopic Josephson junction collapse and revival phenomenon squeezed state 

分 类 号：T-55[一般工业技术]