赝Kossel衍射指数的模拟法确定  

THE DETERMINATION OF PSEUDO-KOSSEL DIFFRACTION INDICES BY SIMULATION METHOD

作　　者：张建中[1] 范得培 周兵[1] 

机构地区：[1]南京大学

出　　处：《应用科学学报》1990年第2期185-188,共4页Journal of Applied Sciences

摘　　要：晶体的X射线衍射非平行光法中,赝Kossel衍射是一个重要的方法.其中背射赝 Kossel法最实用方便.它的原理很简单:聚焦的高能电子束轰击很薄的金属靶形成点X射线源激发出特征谱线,产生充分发散的光束.由于发散光束中含有各种倾角的射线,能迎合所有晶面的Bragg反射条件,样品上被照射区域将产生很多衍射锥,在底片上形成许多近似椭圆或抛物线状的曲线,称为赝Kossel线(图1).这些曲线组成特有的赝Kossel衍射花样.其中每一条曲线来自一个晶面族的反射,所以一张背射照片能带来极丰富的信息.The X-ray pseudo-Kossel diffraction indices of crystals can be determined on a large scale by using a simulation method, which is capable of indicating the indices of complete, incomplete or even severely broken .lines. By means of this method, the diffraction patterns could be made full use of and the standard diagrams of pseudo-Kossel diffraction can be offered.

关 键 词：晶体 X射线 赝Kossel衍射 模拟法 

分 类 号：O766.3[理学—晶体学]