HoNi_2Ge_2的X射线粉末衍射数据  

X Ray Powder Diffraction Data for HoNi 2Ge 2

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作  者:严嘉琳[1] 曾令民[1] 郝建民[1] 

机构地区:[1]广西大学材料科学研究所

出  处:《广西科学》1998年第4期32-33,共2页Guangxi Sciences

基  金:国际衍射数据中心资助;广西自然科学基金

摘  要:给出尚未出现在JCPDS-PDF上的HoNi2Ge2相的X射线粉末衍射数据。该化合物属四方晶系,空间群为I4/mmm,a=4.0303(1),c=9.7745(4)。每个晶胞中有2个化合式量。衍射数据指标化可靠性因子F29=54.6(0.009357)。X ray powder diffraction patterns and related crystallographic data for compound HoNi 2Ge 2 are reported The compound HoNi 2Ge 2 is tetragonal with lattice parameters a=4 030 3(1),c=9 774 5(4),space group I4/mmm and 2 fonmual units of HoNi 2Ge 2 in unit cell The Smith and Snyder figure of merit F 29 for this compound is 54 6(0 009 357).

关 键 词:HoNi2Ge2 X射线衍射 粉末衍射数据 

分 类 号:TG113.12[金属学及工艺—物理冶金] TG113.12[金属学及工艺—金属学]

 

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